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Tomographic diffractive microscopy with isotropic resolution (2017) Article

Bertrand Simon, Matthieu Debailleul, Mounir Houkal, Carole Ecoffet, Jonathan Bailleul, Joël Lambert, Arnaud Spangenberg, Hui Liu, Olivier Soppera, Olivier Haeberle

Optica
Overview of label-free far field optical nanoscopy techniques for nanometrology (2016) Communication

Paul Montgomery, Audrey Leong-Hoï, Freddy Anstotz, Hui Liu, Bertrand Simon, Matthieu Debailleul

Spie Photonics Europe, 2016-04-04, 2016-04-07, Bruxelles, Belgique
Overview of unlabelled far field optical nanoscopy techniques for nanometrology (2016) Communication

Paul Montgomery, Audrey Leong-Hoï, Freddy Anstotz, Hui Liu, Bertrand Simon, Matthieu Debailleul, Olivier Haeberlé

Optical Micro- and Nanometrology, SPIE Photonics Europe
MICROSCOPIE TOMOGRAPHIQUE DIFFRACTIVE: UNE EXTENSION DE LA MICROSCOPIE HOLOGRAPHIQUE (2014) Communication

Matthieu Debailleul, Bertrand Simon, Jonathan Bailleul, Hui Liu, Joël Lambert, Olivier Haeberlé

3ème rencontre francophone d’holographie numérique appliquée à la métrologie des fluides
Mécanismes d'usure de revêtements de nitrure de titane et d'aluminium en microtribologie (2013) Communication

Marie-José Pac, Pascal Henry, Hui Liu, Matthieu Debailleul, Bertrand Simon, Olivier Haeberlé, Marie-Hélène Tuilier

CFM 2013 - 21ème Congrès Français de Mécanique

Matthieu Debailleul